• Journée technique

    Validation et suivi des performances d'une méthode de mesure

    Une méthode de mesure, d’analyse ou d’essai est influencée par différentes caractéristiques qui ont un impact sur sa performance et donc l’incertitude sur le résultat lorsqu’il s’agit d’une méthode quantitative.
    Dans le cas de l’analyse, l’approche est encore plus complexe avec l’influence de facteurs complémentaires tels que la matrice de l’échantillon ou les réactifs utilisés pour n’en citer que quelques-uns. Il est ainsi nécessaire de caractériser une méthode avant de la mettre en service afin de la valider, c’est-à-dire de déclarer son aptitude à respecter les critères attendus et répondre aux besoins.

  • Événement

    CIM 2017 : 18e congrès international de métrologie

    Le CIM 2017 se tiendra du 19 au 21 sept à Paris conjointement avec ENOVA.

    Le congrès présente la R&D et les bonnes pratiques Mesure et Métrologie pour l'industrie autour : de conférences ; de tables rondes et d’une exposition des innovations technologiques et des professionnels de la mesure

    Le Programme est là ! Venez découvrir toutes les thématiques de cette nouvelle édition du CIM.

  • Validation et suivi des performances d'une méthode de mesure
  • CIM 2017 : 18e congrès international de métrologie
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Retrouvez tous les guides techniques Mesure - Métrologie rédigés par les adhérents du CFM. Les sujets sont variés : Biologie, Mesure 3D, Incertitude...

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