• CONGRES INTERNATIONAL DE METROLOGIE

    CIM 2019 - L'appel à conférences est lancé !

    Pour communiquer et développer votre réseau :

    • proposez une conférence avant le 15 janvier 2019
    • réservez un stand
    • participez à l’événement

    Le CIM 2019 est organisé à Paris, Porte de Versailles, conjointement avec la nouvelle exposition Measurement World.

  • JOURNÉE TECHNIQUE

    Données métrologie et production : de l’analyse MSP au Big Data

    La MSP est un outil de base permettant le contrôle dynamique de la production. L'avènement de la métrologie 4.0 s'appuyant sur les outils d'analyse du Big Data, multiplie le champ d'application et permet un contrôle encore plus poussé des moyens de fabrication.

    Cette journée a pour objectif de comprendre les différentes méthodes mises en oeuvre et d’échanger à travers des retours d’expériences.

  • JOURNÉE TECHNIQUE

    Réussir la transition vers la nouvelle version de la norme ISO/CEI 17025

    La révision de la norme ISO/CEI 17025 vise notamment la prise en compte des retours d’expérience, des évolutions de la terminologie, des technologies de l’information, l’introduction de l’approche processus et le raisonnement fondé sur le risque mais aussi la cohérence avec les autres normes de la série des ISO 17 000 et la norme ISO 9001:2015.
    Cette journée a pour but de vous présenter les modifications de la norme et de vous permettre de réussir votre transition vers cette nouvelle norme.

  • CIM2019 - L'appel à conférences est lancé !
  • JT 7 nov
  • JT 4 déc
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Retrouvez tous les guides techniques Mesure - Métrologie rédigés par les adhérents du CFM. Les sujets sont variés : Biologie, Mesure 3D, Incertitude...

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