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Programme détaillé à venir
Description de la journée
L’IA s’invite dans tous les secteurs d’activités, sa capacité à traiter de gros volumes de données, à automatiser des tâches, à faciliter des analyses en fait un outil puissant notamment dans le domaine de la mesure. Pour pouvoir exploiter le potentiel d’algorithmes d’intelligence artificielle, il faut s’assurer d’entrainer les modèles sur des bases de données fiables. C’est un enjeu majeur pour limiter l’occurrence de défauts dans les résultats et pour maitriser la propagation des incertitudes de mesure dans les modèles.
Cette journée technique a pour objectif d’étudier comment l’IA peut faciliter et appuyer certaines missions propres au métrologue et de montrer réciproquement comment le métrologue peut fiabiliser les outils intégrant de l’IA.
Après une conférence introductive sur les technologies d’IA actuellement disponibles, nos intervenants présenteront des cas d’usage : de l’IA pour la mesure et de la métrologie pour le déploiement de l’IA. Nous nous pencherons également sur le volet normatif associé à ces technologies. Les discussions pourront s’ouvrir sur des questionnements éthiques.
Nous vous attendons nombreux pour imaginer ensemble les impacts de ces technologies sur le monde de la mesure et de la métrologie.
