24 juin 2010

Paris

Nous assistons aujourd’hui à une véritable révolution dans le domaine des mesures dimensionnelles résultant des innovations des fabricants tant sur le plan des performances techniques que sur l’approche économique de ces nouveaux instruments.

Qu’elles soient optiques, laser, ou encore, à palpage mécanique, ces nouvelles technologies de mesure prennent place, peu à peu, dans les ateliers de production pour se substituer, d’une part, au laboratoire de métrologie, d’autre part, aux instruments de mesures conventionnels, dont les applications sont très souvent limitées.

En effet, l’expression de nouveaux besoins des industriels et les avancées technologiques ont conduit, ces dernières années, au développement de systèmes de mesure de plus en plus sophistiqués. La diversité des technologies, utilisant notamment des capteurs optiques, va de pair avec la multitude de leurs applications.

Face à ce constat, et étant donné qu’il serait utopique de vouloir être exhaustif dans l’analyse de ces systèmes, cette journée technique se focalisera plus particulièrement sur les mesures tridimensionnelles par vision, laser et  palpage mécanique, qui répondent à bon nombre de « besoins » de mesure. Elle sera également l’occasion de mieux comprendre le jargon utilisé par les spécialistes et d’aborder avec eux, les aspects économiques liés aux investissements :
•        Quels sont les principes qui régissent ces mesures ?
•        Quelles sont les paramètres d’influences et comment les maîtriser ?
•        Comment sont réalisés les étalonnages de ces outils par les utilisateurs ?
•        Comment établir des critères de sélection ?

Les systèmes de mesure présentés pourront être mis en œuvre dans de multiples applications pour les secteurs tels que : mécanique, automobile, aéronautique et spatial, moulage , fonderie, emballage, ferroviaire, nucléaire, énergie, métallurgie, chimie, naval ...

Les fabricants de matériels, les utilisateurs industriels, les laboratoires d’étalonnage, prendront la parole pour valider les limites d’utilisation, les applications, les avantages et inconvénients de ces nouveaux systèmes de mesure portatifs.
Aborder ces innovations en maitrisant leur développement au quotidien et en faire une opportunité pour valoriser la fonction métrologie. C’est ce que nous vous proposons d’évoquer lors de cette journée technique.

PROGRAMME

9h00 - Accueil des participants

9h15 - Ouverture et présentation de la journée. Antonio Mazzei – IMQ, Président du Collège Français de Métrologie

9h30 - Laser de poursuite : la mobilité totale. M. Soltani – Hexagon Metrology

10h10 - Scanner laser digital : une nouvelle génération orientée productivité. M. Coquard – Nikon Metrology

10h50 - Pause-café

11h00 - Retour d'expériences sur le contrôle de pièces de grandes dimensions. M. Brocot – CNIM

11h40 - Numériseur 3D : un nouveau métier en lien avec les besoins des bureaux d'études. M. Raynaud – INSA de Lyon / MGS

12h20 - Déjeuner

13h45 - La traçabilité sur un système de stéréovision. M. Lambert – Gom France

14h30 - Laser scanner : nuage de points grandes dimensions. MM. Delerue et Mazzara – Faro Europe

15h15 - Retour d'expériences industriel sur le contrôle de pièces.  M. Becquet - Peugeot Citroën Automobiles

16h00 - Pause-café

16h10 - Evaluation des incertitudes de mesure : maîtrise du risque client et du risque fournisseur. M. Pou – A+ Métrologie

16h50 - Bilan des échanges de la journée, enjeux et perspectives. Antonio Mazzei – IMQ, Président du Collège Français de Métrologie

17h00 - Clôture de la journée

INSCRIPTION à la JT du CFM – 24 juin 2010

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Merci d’adresser ce bulletin par courrier, e-mail ou télécopie à
CFM – 429 rue de l’Industrie – CS 70003 – 34078 Montpellier Cedex 3 – France
Email : info@cfmetrologie.com – Fax : 04 67 06 20 35

Tél : 04 67 06 20 36 – www.cfmetrologie.com

Collège Français de Métrologie 1, rue Gaston Boissier - 75724 Paris Cedex 15 www.cfmetrologie.com info@cfmetrologie.com Secrétariat du Collège Français de Métrologie : Sandrine Gazal 429 rue de l'Industrie - CS 70003 34078 Montpellier Cedex 3 - France Tel : + 33 (0)4 67 06 20 36 - Fax : + 33 (0)4 67 06 20 35 info@cfmetrologie.com