Après une édition 2005 exceptionnelle par la présence de 150 représentants étrangers de l’Organisation Internationale de Métrologie Légale, le Congrès International de Métrologie 2007 se stabilise autour d’une confortable participation :
- 650 participants inscrits et 120 visiteurs extérieurs,
- l’exposition associée au Congrès continue de s’étendre avec 73 stands installés (14% de plus qu’en 2005) et de s’internationaliser car 25% des sociétés présentes proviennent des grands pays européens, d’Afrique et des USA,
- 170 conférences orales et affichées proposées, et les séances affichées se sont déroulées cette année en sessions spécialement dédiées qui ont été l’occasion d’échanges de fond entre les participants,
- 35% des participants sont issus de 40 pays différents.
« Une réunion de famille, une grande famille … Pour les habitués, c’est le grand rendez-vous, tous les 2 ans. Un lieu de retrouvailles pour une communauté ordinairement dispersée dans des laboratoires et des entreprises, parfois isolée, encore trop souvent mal comprise. La métrologie est une grande et toute petite famille. Des cousins, des cousines qui ne se voient pas beaucoup, qui ne se parlent pas trop. Alors, c’est l’occasion…
La métrologie est un large univers qui part de la base des étalons de terrain, tous les terrains industriels ou autres, remonte toutes les chaînes de raccordement jusqu’aux étalons des laboratoires nationaux. Entre les métrologues du terrain et les métrologues scientifiques, il paraît parfois, tant les incompréhensions peuvent être vives, qu’ils ne vivent pas dans la même galaxie.
Et combien d’années lumière entre le métrologue d’un laboratoire national de Bulgarie ou d’Australie et le responsable métrologie d’une PME toulousaine ?
Alors, la tête dans les étoiles, on pourrait rêver qu’il y ait plus encore de monde à ce congrès international qui rassemble pour quatre jours tous ces mondes. Qui réussit l’équilibre difficile et toujours contestable de parler d’un peu de chacun. Pour que chaque métrologie s’y retrouve un peu et apprenne à comprendre les autres. »
selon les chroniques de l’Afnor, www.metrologie.afnor.org
Nous tenons à remercier içi l’ensemble des participants pour leur présence à Lille à l’occasion de notre Congrès 2007.
Les réflexions pour la préparation de la prochaine édition, du 22 au 25 Juin 2009 à Paris, sont déjà engagées avec des ambitions européennes marquées, une volonté encore plus forte de répondre aux préoccupations des industriels et d’ouverture sur les nouvelles évolutions de la mesure, et enfin le maintien d’une grande exposition incontournable.
Le rendez-vous est pris ; nous y serons !
Le Collège Français de Métrologie
